Wi8 i G2 Wafer Vision Inspektionssystem

Technische Daten

FORTSCHRITTLICHE & AUTOMATISIERTE LÖSUNG

Die fortschrittliche, automatisierte Lösung steigert die Produktivität, die Qualität und die Rentabilität durch erprobte Prüfalgorithmen und ein hochentwickeltes Hardware-Design. Unser Offline Verifier (OV) bietet eine Echtzeit-Validierung von Fehlerergebnissen, indem er auch geringfügige Defekte auffindet, um die Produktionsausbeute zu maximieren.

Vorteile

Ersatz für manuelle, optische Prüfung.

Es bietet kundenspezifische Anpassungsmöglichkeiten für zukünftige Prüfanforderungen.

Es liefert Prüfergebnisse für die Wiederholbarkeit und die Reproduzierbarkeit.

Kundenspezifische Inspektions-Algorithmen.

Es maximiert den Produktionsdurchsatz und den Ertrag.

Robuster Inspektions-Algorithmus

Dynamische Auswahl des Prüfbereiches

Flexible Dimensionsmessung

Konfigurierbare Fehlerkategorisierung

Ertragsoptimierung durch Offline Verifizierstation

Farbinspektion

AUSGEREIFTES HARDWARE DESIGN

Bilderfassung über hochauflösende 16 Megapixel Kamera

Automatisierte und schnelle Konvertierung über drei verschiedene Objektive

Intelligente Autofokus Technologie

Präzisionspositionierung über pneumatisch Lagerung

Kundenspezifische LED Beleuchtung

Inspektionskriterien

Risse im Wafer

Fehlende Dies

Farbfehler

Grate an den Kanten

Abrieb an den Kanten

Risse

Risse

Absplitterungen

Optische Schrifterkennung

Dynamische Größenmessungen

AUF DEM WEG ZU INDUSTRIE 4.0

Das V-ONE-Programm bietet eine perfekt auf Kundenwünsche anpassbare Plattform aus einer Hand. Es ermöglicht datenbasierte Entscheidungen in der Fertigung. Es liefert den Anwendern zustandsbasierte Warnmeldungen aus der Ferne um diese zu visualisieren, zu überwachen, zu steuern und zu implementieren, um damit Ausfallzeiten zu reduzieren und den Durchsatz zu erhöhen