Press Release

27th December 2023 - 伟特科技的V510i先进三维光学视检方案 (3D AOI) 荣获2023 Global Technology Award!

(马来西亚槟城,2023年12月讯)伟特科技,致力于成为全球最值得信赖的科技公司,非常荣幸宣布其V510i 3D AOI视检方案(专为先进封装而设计)在SMT封装检测领域的AOI类别中脱颖而出,获得了 2023 Global Technology Award。这一殊荣于2023年11月14日在德国慕尼黑展览的颁奖典礼上正式揭晓。

伟特科技和其销售合作伙伴 - MVTech团队在2023年德国慕尼黑展览展位前合影

通过结合人工智能(A.I.)技术和强大的检测能力,伟特的V510i 3D AOI视检方案 (专为先进封装而设计)在半导体和SMT行业引领了重大变革,尤其是在处理高度镜面元件检测。其中一项显着的突破性技术是表面缺陷检测(SDI)算法,使得V510i 3D AOI视检方案能够提供广泛的检测覆盖,包括裸晶检测(偏移,缺失,共面,碎裂,转向,表面缺陷,如刮痕及污染等等),金手指(电导触片)表面检测,异物检测,和距离测量。通过照明模组和电动Z轴的协同作用,智能测量功能还能够提取准确的测量结果,为用户提供与CMM相当的功能体验。

融合A.I.技术,V510i 3D AOI在软件编程与缺陷分类方面带来了显著改进。除了实现自动化编程和验收过程,同时也降低了对技术人员需求以及人为检测错误的潜在风险。伟特V510i 3D AOI 的A.I.编程引入了自动编程能力,大幅简化了编程过程,不仅提升高达4倍的编程速度,同时也降低了对技术操作工人的依赖。此外,我们还引入了一项创新的功能 - A.I.智能复判 (简称A.I. VVTS),使用户在检测结果复判中自动完成验收流程。这项开创性技术可实现超越90%的不良覆盖率和高精度的缺陷检测,提升用户对其检测结果绝对的信心。此外,V510i 3D AOI视检方案已成功获取IPC-CFX-2591(合格产品列表)QPL的认证,并具备SECS/GEM的功能。

2023 Global Technology Award 奖座和奖状与伟特卓越的V510i 3D AOI设备合影

2023 Global Technology Award 奖座和奖状与伟特卓越的V510i 3D AOI设备合影 “随着这一项创新技术的发布,我们坚信能够为客户解决在适应工业4.0面临的挑战。这个荣誉奖项对我们而言是充满荣耀的。我想借此机会衷心感谢尊敬的评审团选择了伟特的V510i 3D AOI作为这个重要奖项的获奖者。最大的荣誉归功于背后一班不断追求创新技术、为满足客户需求并达到他们的期望而不懈努力的研发团队。”,BIE(Board Inspection and Embedded Solutions)首席执行官黄嘉钦先生表示。

通过伟特最先进的AOI创新科技,我们致力于将客户保持在制造领域的领先地位。欢迎随时通过enquiry@vitrox.com与我们保持联系,了解更多信息。